≪延期≫PF研究会「X線干渉計と縦型ウィグラーを用いた超高感度画像計測の現状と将来展望」

開催日

2020年03月26日  ～ 2020年03月27日   

場所

KEKつくばキャンパス　4号館1階セミナーホール（つくば市大穂1-1）

主催

申込方法

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